射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度測試所研究的騷擾源通常是指來自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場。該電磁場可能作用于連接安裝設(shè)備的整個(gè)電纜上。雖然被騷擾設(shè)備的尺寸比騷擾頻率的波長小，但I(xiàn)/O線，例如電源線、通信線、接口電纜等，由于其長度可能是幾個(gè)波長、則可能成為無源的接收天線網(wǎng)絡(luò)。

　　假定連接設(shè)備的電纜網(wǎng)絡(luò)是處于諧振的方式（入/4和入/2開路或折合偶極子，電纜系統(tǒng)間的敏感設(shè)備易受到流經(jīng)設(shè)備的騷擾電流的影響，并由相對(duì)于參考接地平面（板）具有150Ω共模阻抗的耦合和去耦網(wǎng)絡(luò)代表這種電纜系統(tǒng)。

　　測量方法是使受試設(shè)備在騷擾源作用下形成的電場和磁場來模擬來自實(shí)際發(fā)射機(jī)的電場和磁場。這些騷擾場是由試驗(yàn)配置所產(chǎn)生的電壓或電流所形成的近區(qū)電場和磁場來近似表示的。用耦合和去耦裝置提供騷擾信號(hào)給某一電纜，同時(shí)保持其他電纜不受影響，只近似于騷擾源以不同的幅度和相位范圍同時(shí)作用于全部電纜的實(shí)際情況。

　　1.射頻傳導(dǎo)抗擾度測試試驗(yàn)等級(jí)

　　試驗(yàn)等級(jí)定義的頻率范圍為150kHz-80MHz。9?150Khz頻率范圍內(nèi)，對(duì)來自射頻發(fā)射機(jī)的電磁場所引起的感應(yīng)騷擾不要求測量。

　　試驗(yàn)等級(jí)選擇主要依據(jù)設(shè)備和電纜實(shí)際安裝時(shí)所接觸的電磁環(huán)境。

　　a．1類：低電平輻射環(huán)境。無線電臺(tái)/電視臺(tái)位于的距離上的典型電平和低雄率發(fā)射接收機(jī)的典型電平。

　　b．2類：中等電磁輻射環(huán)境。用在設(shè)備飭低功率便攜式發(fā)射機(jī)(典型額定值小于1W）。典型的商業(yè)環(huán)境。

　　c．3類：嚴(yán)酷電磁輻射環(huán)境。用于相對(duì)靠近設(shè)備，但距離不小于1m的手提式發(fā)射接收機(jī)（≥2W）,用在靠近備的高功率廣播緒機(jī)和可能靠近工科醫(yī)設(shè)備。典型的工業(yè)環(huán)境。

　　d．X類：特定產(chǎn)品通過協(xié)商或由產(chǎn)品規(guī)范和產(chǎn)品的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的開放等級(jí)。選擇適用等級(jí)時(shí)，還要考慮到受試設(shè)備產(chǎn)生故障的后果，當(dāng)產(chǎn)生的后果嚴(yán)重時(shí)可以考慮采用更嚴(yán)格的試驗(yàn)等級(jí)。

　　傳導(dǎo)抗擾度測試失敗原因和對(duì)策

　　傳導(dǎo)抗擾度測試（Conducted Immunity Test）是電子設(shè)備電磁兼容性（EMC）測試中的一部分，用于評(píng)估設(shè)備在面對(duì)各種電磁干擾源時(shí)的抗干擾能力。然而，如果設(shè)備在傳導(dǎo)抗擾度測試中失敗了，可能是由以下一些原因?qū)е碌模?/p>

　　1.**設(shè)計(jì)問題**：設(shè)備的電路設(shè)計(jì)可能存在問題，導(dǎo)致抗干擾能力不足。例如，電路或線路可能沒有足夠的屏蔽措施或?yàn)V波器來有效抑制干擾信號(hào)。

　　對(duì)策：重新設(shè)計(jì)電路、增加屏蔽或?yàn)V波器，以加強(qiáng)設(shè)備的抗干擾能力。在電路設(shè)計(jì)過程中應(yīng)考慮電磁兼容性的要求，并遵循EMC設(shè)計(jì)規(guī)范。

　　2.**地線問題**：設(shè)備的地線連接可能不理想，導(dǎo)致地線不良或存在共模電流。共模電流可能會(huì)引入額外的干擾，影響設(shè)備的抗干擾能力。

　　對(duì)策：確保設(shè)備的地線連接良好且符合設(shè)計(jì)要求。使用合適的地線遵循規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)，以減少共模電流的產(chǎn)生。

　　3.**組件選擇問題**：設(shè)備中使用的元器件可能不符合所需的電磁兼容性要求。例如，電阻、電感、濾波器等可能無法有效抑制干擾信號(hào)或共模噪聲。

　　對(duì)策：選擇符合EMC要求的元器件，并確保其與設(shè)備的其他組件相匹配。進(jìn)行必要的元器件更換或升級(jí)。

　　4.**測試環(huán)境與實(shí)際使用環(huán)境不一致**：設(shè)備在實(shí)際使用環(huán)境中可能面臨與測試環(huán)境不同的干擾源。

　　對(duì)策：分析實(shí)際使用環(huán)境中可能出現(xiàn)的干擾源，并作出相應(yīng)的設(shè)計(jì)和改進(jìn)，以確保設(shè)備能夠在不同環(huán)境中正常工作。

　　5.**測試操作問題**：測試時(shí)，可能由于測試設(shè)備設(shè)置不正確或操作不當(dāng)，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

　　對(duì)策：確保測試設(shè)備配置正確，并按照測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行操作。檢查測試設(shè)備和連接線路的狀態(tài)，以排除測試設(shè)備本身的問題。

　　針對(duì)傳導(dǎo)抗擾度測試失敗的對(duì)策需要根據(jù)具體的情況進(jìn)行分析和改進(jìn)。一般來說，通過重新設(shè)計(jì)電路、增強(qiáng)屏蔽、改善地線連接，選用符合要求的元器件以及在實(shí)際使用環(huán)境中進(jìn)行測試和改進(jìn)可以提高設(shè)備的傳導(dǎo)抗擾度。此外，與專業(yè)的EMC測試實(shí)驗(yàn)室合作，進(jìn)行專業(yè)的分析和咨詢也有助于解決問題和提升設(shè)備的抗干擾能力。